Разработка TEM-камеры для испытаний интегральных схем на электромагнитную совместимость
Статья в журнале
Представлены результаты разработки TEM-камеры для испытаний интегральных схем с максимальными габаритами 30×30×5 мм3 на электромагнитную совместимость в диапазоне частот до 5,2 ГГц. Рассмотрены варианты исполнения TEM-камеры, отличающиеся формой согласующих коаксиально-полосковых переходов. Выполнены электродинамический анализ и параметрическая оптимизация переходов с целью уменьшения максимального значения частотной зависимости |S11|. На основе полученных при моделировании частотных зависимостей |S11| для дальнейшей разработки выбран вариант, обеспечивающий наилучшее согласование (|S11| менее минус 30 дБ). Для проверки сходимости результатов вычислены частотные зависимости |S11| с более детальным шагом пространственной дискретизации численными методами матрицы линии передачи и конечных элементов.
Журнал:
- Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники
- Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (Томск)
Библиографическая запись: Демаков, А. В. Разработка TEM-камеры для испытаний интегральных схем на электромагнитную совместимость / А. В. Демаков, М. Е. Комнатнов // Доклады ТУСУРа. – 2018. – Т. 21. – №1. – С. 52–56. – DOI: 10.21293/1818-0442-2018-21-1-52-56
Индексируется в: