Ускоренные испытания полупроводниковых источников света на долговечность
Статья в журнале
Приводятся результаты ускоренных испытаний полупроводниковых светодиодов (СД) белого цвета в пластмассовом корпусе типа 5050 на долговечность. Определена энергия активации доминирующего процесса деградации и температура кристалла СД в процессе испытаний.
Журнал:
- Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники
- Издательство: Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (г. Томск) (Томск)
Библиографическая запись: Гончарова Ю. С. Ускоренные испытания полупроводниковых источников света на долговечность / Ю. С. Гончарова, И. Ф. Гарипов, В. С. Солдаткин // Доклады ТУСУР. – 2013. – № 2(28). – С. 51–53.
Индексируется в: