Смирнов Серафим Всеволодович
Основы фотоники: Рабочая программа учебной дисциплины «Основы фотоники»/ Смирнов С. В. ‐ 2017
12.03.03 « Фотоника и оптоинформатика» (Фотоника нелинейных, волноводных и периодических структур, очная форма обучения, учебный план набора 2015 года)
Основы фотоники: Рабочая программа учебной дисциплины «Основы фотоники»/ Смирнов С. В. ‐ 2017
12.03.03 « Фотоника и оптоинформатика» (Фотоника нелинейных, волноводных и периодических структур, очная форма обучения, учебный план набора 2016 года)
Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем: Рабочая программа учебной дисциплины «Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем»/ Смирнов С. В., Чистоедова И. А. ‐ 2016
11.03.04 «
Электроника и наноэлектроника»
(Микроэлектроника и твердотельная электроника,
очная форма обучения,
учебный план набора 2013 года)
План в архиве
Методы анализа и контроля наностуктурированных материалов и систем: Рабочая программа учебной дисциплины «Методы анализа и контроля наностуктурированных материалов и систем»/ Смирнов С. В., Чистоедова И. А. ‐ 2016
28.03.01 «
Нанотехнологии и микросистемная техника»
(Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике,
очная форма обучения,
учебный план набора 2013 года)
План в архиве
Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем: Рабочая программа учебной дисциплины «Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем»/ Смирнов С. В., Чистоедова И. А. ‐ 2016
28.03.01 «
Нанотехнологии и микросистемная техника»
(Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике,
очная форма обучения,
учебный план набора 2014 года)
План в архиве
Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем: Рабочая программа учебной дисциплины «Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем»/ Смирнов С. В., Чистоедова И. А. ‐ 2016
28.03.01 « Нанотехнологии и микросистемная техника» (Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике, очная форма обучения, учебный план набора 2015 года)
Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем: Рабочая программа учебной дисциплины «Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем»/ Смирнов С. В., Чистоедова И. А. ‐ 2016
28.03.01 « Нанотехнологии и микросистемная техника» (Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике, очная форма обучения, учебный план набора 2016 года)
Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем: Рабочая программа учебной дисциплины «Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем»/ Смирнов С. В., Чистоедова И. А. ‐ 2016
11.03.04 « Электроника и наноэлектроника» (Микроэлектроника и твердотельная электроника, очная форма обучения, учебный план набора 2016 года)
Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем: Рабочая программа учебной дисциплины «Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем»/ Смирнов С. В., Чистоедова И. А. ‐ 2016
11.03.04 « Электроника и наноэлектроника» (Микроэлектроника и твердотельная электроника, очная форма обучения, учебный план набора 2015 года)
Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем: Рабочая программа учебной дисциплины «Методы анализа и контроля наноструктурированнных материалов и систем»/ Смирнов С. В., Чистоедова И. А. ‐ 2016
11.03.04 «
Электроника и наноэлектроника»
(Микроэлектроника и твердотельная электроника,
очная форма обучения,
учебный план набора 2014 года)
План в архиве