Устройство для контроля толщины изоляции микропровода
патент на изобретение
Правообладатель: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники»
Номер и дата приоритета: № 2017114319, 24 апреля 2017
Номер патента/свидетельства и дата регистрации: 2662249, 27 июля 2018
Ключевые слова:
КОНТРОЛЬ, ТОЛЩИНА, ИЗОЛЯЦИЯ