11.04.04 - Электроника и наноэлектроника (Электронные приборы и устройства сбора, обработки и отображения информации) План в архиве
Заочная форма обучения, план набора 2018 г.
Изучается: 2 семестр
Цикл дисциплины: Б2. Практики, в том числе научно-исследовательская работа (НИР)
Вид практики: Учебная практика
Индекс дисциплины: Б2.1
Обеспечивающая кафедра: Кафедра промышленной электроники
Рабочая программа
Основная литература
Дополнительная литература
Решетников М.Т. Планирование эксперимента и статистическая обработка данных. – Томск: ТУСУР, 2000. – 232 с.
Доступно в библиотеке:
38
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Контрольные испытания
| Вид контроля | Семестры |
|---|---|
| Зачёт с оценкой | 2 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
| Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | 5 семестр | Всего | Единицы |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Общая трудоемкость | 216 | 216 | часов | ||||
| 6 | 6 | З.Е | |||||
| 4 | 4 | недель |
Компетенции
| Код | Содержание |
|---|---|
| ОПК-2 | способностью использовать результаты освоения дисциплин программы магистратуры |
| ОПК-5 | готовностью оформлять, представлять, докладывать и аргументированно защищать результаты выполненной работы |
| ПК-2 | способностью разрабатывать эффективные алгоритмы решения сформулированных задач с использованием современных языков программирования и обеспечивать их программную реализацию |
| ПК-3 | готовностью осваивать принципы планирования и методы автоматизации эксперимента на основе информационно-измерительных комплексов как средства повышения точности и снижения затрат на его проведение, овладевать навыками измерений в реальном времени |
| ПК-4 | способностью к организации и проведению экспериментальных исследований с применением современных средств и методов |
| ПК-6 | способностью анализировать состояние научно-технической проблемы путем подбора, изучения и анализа литературных и патентных источников |
| ПК-8 | способностью проектировать устройства, приборы и системы электронной техники с учетом заданных требований |