11.04.04 - Электроника и наноэлектроника (Проектирование и технология микро- и наноэлектронных средств) План в архиве
Очная форма обучения, план набора 2015 г.
Изучается: 2 семестр
Цикл дисциплины: Б2. Практики
Вид практики: Учебная практика
Индекс дисциплины: Б2.1
Обеспечивающая кафедра: Кафедра конструирования узлов и деталей радиоэлектронной аппаратуры
Контрольные испытания
| Вид контроля | Семестры |
|---|---|
| Зачёт с оценкой | 2 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
| Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | Всего | Единицы |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Общая трудоемкость | 216 | 216 | часов | |||
| 6 | 6 | З.Е | ||||
| 4 | 4 | недель |
Компетенции
| Код | Содержание |
|---|---|
| ОК-3 | готовностью к активному общению с коллегами в научной, производственной и социально-общественной сферах деятельности |
| ОПК-2 | способностью использовать результаты освоения дисциплин программы магистратуры |
| ОПК-5 | готовностью оформлять, представлять, докладывать и аргументированно защищать результаты выполненной работы |
| ПК-1 | готовностью формулировать цели и задачи научных исследований в соответствии с тенденциями и перспективами развития электроники и наноэлектроники, а также смежных областей науки и техники, способностью обоснованно выбирать теоретические и экспериментальные методы и средства решения сформулированных задач |
| ПК-3 | готовностью осваивать принципы планирования и методы автоматизации эксперимента на основе информационно-измерительных комплексов как средства повышения точности и снижения затрат на его проведение, овладевать навыками измерений в реальном времени |
| ПК-4 | способностью к организации и проведению экспериментальных исследований с применением современных средств и методов |
| ПК-5 | способностью делать научно-обоснованные выводы по результатам теоретических и экспериментальных исследований, давать рекомендации по совершенствованию устройств и систем, готовить научные публикации и заявки на изобретения |
| ПК-6 | способностью анализировать состояние научно-технической проблемы путем подбора, изучения и анализа литературных и патентных источников |