11.03.04 - Электроника и наноэлектроника (Промышленная электроника) План в архиве
Очная форма обучения, план набора 2013 г.
Изучается: 5 семестр
Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)
Индекс дисциплины: Б1.В.ДВ.4.2
Обеспечивающая кафедра: Кафедра промышленной электроники
Рабочая программа
Основная литература
Юревич Е.И. Основы робототехники: учеб. пособие для вузов / Е. И. Юревич. - 3-е изд. - СПб.: БХВ-Петербург, 2010. - 360 с.
Доступно в библиотеке:
20
экземпляров
Дополнительная литература
Осипов Ю. М. Основы мехатроники. - Томск: Томc. гос. ун-т систем упр. и радио-электроники. 2007. - 162 с.
Доступно в библиотеке:
90
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Контрольные испытания
| Вид контроля | Семестры |
|---|---|
| Зачёт | 5 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
| Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | 5 семестр | 6 семестр | 7 семестр | 8 семестр | Всего | Единицы |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Лекция | 20 | 20 | часов | |||||||
| Практическая работа | 18 | 18 | часов | |||||||
| Лабораторная работа | 16 | 16 | часов | |||||||
| Всего аудиторных занятий | 54 | 54 | часов | |||||||
| Из них в интерактивной форме | 12 | 12 | часов | |||||||
| Самостоятельная работа | 54 | 54 | часов | |||||||
| Общая трудоемкость | 108 | 108 | часов | |||||||
| 3 | 3 | З.Е |
Компетенции
| Код | Содержание |
|---|---|
| ОПК-2 | способностью выявлять естественнонаучную сущность проблем, возникающих в ходе профессиональной деятельности, привлекать для их решения соответствующий физико-математический аппарат |
| ОПК-3 | способностью решать задачи анализа и расчета характеристик электрических цепей |
| ПК-1 | способностью строить простейшие физические и математические модели приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения, а также использовать стандартные программные средства их компьютерного моделирования |
| ПК-2 | способностью аргументированно выбирать и реализовывать на практике эффективную методику экспериментального исследования параметров и характеристик приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения |