Сайты ТУСУРа

История и методология науки и техники в области электроники

11.04.04 - Электроника и наноэлектроника (Промышленная электроника и микропроцессорная техника) План в архиве

Очная форма обучения, план набора 2015 г.

Изучается: 1 семестр

Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)

Индекс дисциплины: Б1.Б.3

Обеспечивающая кафедра: Кафедра электронных приборов

Дополнительная литература

Квантовая электроника и нелинейная оптика : Пер. с англ. / А. Ярив ; пер. А. А. Барыбин, пер. Ю. Н. Горин, пер. А. И. Соколов, пер. Л. Т. Тер-Мартиросян, ред. пер. О. Г. Вендик, ред. пер. Я. И. Ханин. - М. : Советское радио, 1973. - 454[2] с. :
Доступно в библиотеке: 6 экземпляров

Основы физической и квантовой оптики : учебное пособие для вузов / В. М. Шандаров ; Федеральное агентство по образованию, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : ТУСУР, 2005. - 258 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 245. - ISBN 5-86889-228-3
Доступно в библиотеке: 30 экземпляров


Контрольные испытания

Вид контроля Семестры
Зачёт 1

Объем дисциплины и виды учебной деятельности

Вид учебной деятельности 1 семестр 2 семестр 3 семестр 4 семестр Всего Единицы
Лекция1818часов
Практическая работа1010часов
Всего аудиторных занятий2828часов
Из них в интерактивной форме1414часов
Самостоятельная работа8080часов
Общая трудоемкость108108часов
33З.Е

Компетенции

Код Содержание
ОК-2 способностью использовать на практике умения и навыки в организации исследовательских и проектных работ, в управлении коллективом
ОК-3 готовностью к активному общению с коллегами в научной, производственной и социально-общественной сферах деятельности
ОК-4 способностью адаптироваться к изменяющимся условиям, переоценивать накопленный опыт, анализировать свои возможности
ОПК-1 способностью понимать основные проблемы в своей предметной области, выбирать методы и средства их решения
ОПК-2 способностью использовать результаты освоения дисциплин программы магистратуры
ПК-6 способностью анализировать состояние научно-технической проблемы путем подбора, изучения и анализа литературных и патентных источников