11.04.04 - Электроника и наноэлектроника (Промышленная электроника и микропроцессорная техника) План в архиве
Очная форма обучения, план набора 2015 г.
Изучается: 2 семестр
Цикл дисциплины: ФТД. Факультативы
Индекс дисциплины: ФТД.1
Обеспечивающая кафедра: Кафедра промышленной электроники
Рабочая программа
Основная литература
Сычёв А. Н. Защита прав интеллектуальной собственности: учеб. пособие / А. Н. Сычёв. - Томск: ТУ СУР. 2014. - 240 с.
Доступно в библиотеке:
40
экземпляров
Дополнительная литература
Семенова Г. Д. Интеллектуальная собственность: учеб. пособие. - Томск: Томский межвузовский центр дистанционного образования. 2002. - 151 с.
Доступно в библиотеке:
135
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Семенова Г. Д. Основы патентоведения: руководство к организации самостоятельной работы. - Томск: Томск, гос. ун-т систем упр. и радиоэлектроники,- 2007.- 120 с.
Доступно в библиотеке:
190
экземпляров
Контрольные испытания
Вид контроля | Семестры |
---|---|
Зачёт | 2 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | Всего | Единицы |
---|---|---|---|---|---|---|
Лекция | 16 | 16 | часов | |||
Практическая работа | 16 | 16 | часов | |||
Всего аудиторных занятий | 32 | 32 | часов | |||
Из них в интерактивной форме | 12 | 12 | часов | |||
Самостоятельная работа | 76 | 76 | часов | |||
Общая трудоемкость | 108 | 108 | часов | |||
3 | 3 | З.Е |
Компетенции
Код | Содержание |
---|---|
ОК-1 | способностью использовать иностранный язык в профессиональной сфере |
ОПК-2 | способностью использовать результаты освоения дисциплин программы магистратуры |
ОПК-4 | способностью самостоятельно приобретать и использовать в практической деятельности новые знания и умения в своей предметной области |
ПК-5 | способностью делать научно-обоснованные выводы по результатам теоретических и экспериментальных исследований, давать рекомендации по совершенствованию устройств и систем, готовить научные публикации и заявки на изобретения |
ПК-6 | способностью анализировать состояние научно-технической проблемы путем подбора, изучения и анализа литературных и патентных источников |