28.03.01 - Нанотехнологии и микросистемная техника (Нанотехнологии в электронике и микросистемной технике) План в архиве
Очная форма обучения, план набора 2013 г.
Изучается: 6 семестр
Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)
Индекс дисциплины: Б1.Б.23
Обеспечивающая кафедра: Кафедра компьютерных систем в управлении и проектировании
Рабочая программа
Основная литература
Технические измерения и приборы: учебник для студ. учреждений высш. проф. образования / В.Ю.Шишмарев. – М.: Академия, 2010. – 384с.
Доступно в библиотеке:
11
экземпляров
Отчалко В.Ф. Метрология, стандартизация и сертификация: Учеб. пособие. – Томск: Томский межвузовский центр дистанционного образования, 2010. – 208с.
Доступно в библиотеке:
48
экземпляров
Метрология и радиоизмерения: Учебник для вузов/ В.И. Нефедов, В.И. Хахин, В.К. Битюков и др.; Ред. В.И. Нефёдов. – М.: Высшая школа, 2006. – 525 с.: ил.
Доступно в библиотеке:
48
экземпляров
Дополнительная литература
Эрастов В.Е., Сидоров Ю.К., Отчалко В.Ф. Измерительная техника и датчики: Учебное пособие. – Томск: ТМЦДО, 1999 – 178 с.
Доступно в библиотеке:
63
экземляра
Дж. Фрайден. Современные датчики: Справочник. – Москва: Техносфера, 2006. – 592 с.
Доступно в библиотеке:
50
экземпляров
Сергеев А.Г., Крохин В.В. Метрология: Учеб. пособие для вузов. – М.: Логос, 2000. – 408 с.
Доступно в библиотеке:
3
экземляра
Котюк А.Ф. Датчики в современных измерениях. – М.: Радио и связь, Горячая линия – Телеком, 2006. – 96 с.: ил.
Доступно в библиотеке:
49
экземпляров
Эрастов В.Е. Метрология, стандартизация и сертификация: Учеб. пособие. – Томск: Изд-во Томск. гос. ун-та систем упр. и радиоэлектроники, 2005. – 266 с.
Доступно в библиотеке:
341
экземпляр
Метрология, стандартизация и сертификация: Учебник для вузов/ Я.М.Радкевич, А.Г.Схиртладзе, Б.И.Лактионов. – 2-е изд., доп. – М.: Высшая школа, 2006. – 799с.:ил.
Доступно в библиотеке:
30
экземпляров
Учебно-методическое пособие
Отчалко В.Ф. Метрология, стандартизация и сертификация: Учебное методическое пособие. – Томск: ТМЦДО, 2010.-52c.
Доступно в библиотеке:
12
экземпляров
Контрольные испытания
| Вид контроля | Семестры |
|---|---|
| Экзамен | 6 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
| Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | 5 семестр | 6 семестр | 7 семестр | 8 семестр | Всего | Единицы |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Лекция | 20 | 20 | часов | |||||||
| Практическая работа | 18 | 18 | часов | |||||||
| Лабораторная работа | 16 | 16 | часов | |||||||
| Всего аудиторных занятий | 54 | 54 | часов | |||||||
| Из них в интерактивной форме | 10 | 10 | часов | |||||||
| Самостоятельная работа | 54 | 54 | часов | |||||||
| Всего (без экзамена) | 108 | 108 | часов | |||||||
| Подготовка и сдача экзамена/зачета | 36 | 36 | часов | |||||||
| Общая трудоемкость | 144 | 144 | часов | |||||||
| 4 | 4 | З.Е |
Компетенции
| Код | Содержание |
|---|---|
| ОПК-5 | способностью использовать основные приемы обработки и представления экспериментальных данных |
| ОПК-7 | способностью учитывать современные тенденции развития электроники, измерительной и вычислительной техники, информационных технологий в своей профессиональной деятельности |