11.03.04 - Электроника и наноэлектроника (Микроэлектроника и твердотельная электроника) План в архиве
Очная форма обучения, план набора 2016 г.
Изучается: 4, 5 семестр
Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)
Индекс дисциплины: Б1.В.ОД.3
Обеспечивающая кафедра: Кафедра физической электроники
Рабочая программа
Основная литература
Физика конденсированного состояния: учебное пособие для вузов / Ю.А. Байков, В.М. Кузнецов. – М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011. – 294 с.
Доступно в библиотеке:
45
экземпляров
Дополнительная литература
Смирнов С.В. Физика твердого тела: учебное пособие. – Томск, ТГУ, 2003. – 276 с.
Доступно в библиотеке:
24
экземляра
Павлов П.В. Физика твердого тела: Учебник для вузов / П.В. Павлов, А.Ф. Хохлов. – 3-е изд., стереотип. – М.: Высшая школа, 2000. – 496 с.
Доступно в библиотеке:
60
экземпляров
Контрольные испытания
Вид контроля | Семестры |
---|---|
Экзамен | 4 |
Курсовое проектирование | 5 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | 5 семестр | 6 семестр | 7 семестр | 8 семестр | Всего | Единицы |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Лекция | 44 | 44 | часов | |||||||
Практическая работа | 18 | 18 | часов | |||||||
Лабораторная работа | 16 | 16 | часов | |||||||
Курсовая работа (проект) | 18 | 18 | часов | |||||||
Всего аудиторных занятий | 78 | 18 | 96 | часов | ||||||
Из них в интерактивной форме | 8 | 8 | часов | |||||||
Самостоятельная работа | 66 | 54 | 120 | часов | ||||||
Всего (без экзамена) | 144 | 72 | 216 | часов | ||||||
Подготовка и сдача экзамена/зачета | 36 | 36 | часов | |||||||
Общая трудоемкость | 180 | 72 | 252 | часов | ||||||
5 | 2 | 7 | З.Е |
Компетенции
Код | Содержание |
---|---|
ОПК-2 | способностью выявлять естественнонаучную сущность проблем, возникающих в ходе профессиональной деятельности, привлекать для их решения соответствующий физико-математический аппарат |
ПК-2 | способностью аргументированно выбирать и реализовывать на практике эффективную методику экспериментального исследования параметров и характеристик приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения |