12.03.03 - Фотоника и оптоинформатика (Фотоника нелинейных, волноводных и периодических структур) План в архиве
Очная форма обучения, план набора 2017 г.
Изучается: 3 семестр
Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)
Индекс дисциплины: Б1.Б.19
Обеспечивающая кафедра: Кафедра промышленной электроники
Рабочая программа
Основная литература
Дополнительная литература
. Башарин С. А. Теоретические основы электротехники. Теория электрических цепей и электромагнитного поля: учебное пособие для вузов / С. А. Башарин, В. В. Федоров. – 4-е изд. – М.: Академия, 2010. – 368 с.
Доступно в библиотеке:
14
экземпляров
. Демирчян К. С. Теоретические основы электротехники: учебник для вузов: в 3 т. / К. С. Демирчян и др. – СПб.: Питер, 2006. – Т.1. – 462 с
Доступно в библиотеке:
40
экземпляров
Контрольные испытания
| Вид контроля | Семестры |
|---|---|
| Экзамен | 3 |
Объем дисциплины и виды учебной деятельности
| Вид учебной деятельности | 1 семестр | 2 семестр | 3 семестр | 4 семестр | 5 семестр | 6 семестр | 7 семестр | 8 семестр | Всего | Единицы |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Лекция | 34 | 34 | часов | |||||||
| Практическая работа | 38 | 38 | часов | |||||||
| Лабораторная работа | 16 | 16 | часов | |||||||
| Всего аудиторных занятий | 88 | 88 | часов | |||||||
| Самостоятельная работа | 56 | 56 | часов | |||||||
| Всего (без экзамена) | 144 | 144 | часов | |||||||
| Подготовка и сдача экзамена/зачета | 36 | 36 | часов | |||||||
| Общая трудоемкость | 180 | 180 | часов | |||||||
| 5 | 5 | З.Е |
Компетенции
| Код | Содержание |
|---|---|
| ОПК-1 | способностью представлять адекватную современному уровню знаний научную картину мира на основе знания основных положений, законов и методов естественных наук и математики |
| ОПК-3 | способностью выявлять естественнонаучную сущность проблем, возникающих в ходе профессиональной деятельности, привлекать для их решения физико-математический аппарат |
| ПК-6 | способностью к оценке технологичности и технологическому контролю простых и средней сложности конструкторских решений, разработке типовых процессов контроля параметров механических, оптических и оптико-электронных деталей и узлов |