Модифицированная TEM-камера для испытания интегральных схем на ЭМС

Статья в сборнике трудов конференции

Для оценки помехоэмиссии и помехоустойчивости интегральных схем (ИС) используется TEM-камера. Она состоит из центрального проводника, расположенного внутри металлического корпуса. Для возбуждения электромагнитного поля (ЭМП) во внутреннем объеме TEM-камеры к центральному проводнику подключают генератор сигналов и нагрузку через СВЧ-соединители. Создаваемое ЭМП воздействует на испытуемый объект (ИО), что позволяет оценить уровень его восприимчивости к ЭМП согласно [1]. При подключении измерительного приемника к центральному проводнику камеры можно измерить уровень эмиссии от ИО согласно [2]. Данный вид измерений и испытаний широко используется при разработке различных радиоэлектронных средств (РЭС), в состав которых входят ИС. С ростом верхней частоты спектра полезных и помеховых сигналов необходимо совершенствовать устройства для испытания ИС. В настоящее время разработана ТЕМ-камера для высоты ИО 20 мм с верхней граничной частотой до 2 ГГц [3, 4]. Однако необходимо её дальнейшее совершенствование: увеличение полезного объема под ИО и диапазона рабочих частот, а также уменьшение неравномерности ЭМП. Цель данной работы – представить усовершенствованную TEM-камеру для испытаний ИС на ЭМС.

Библиографическая запись: Демаков, А. В. Модифицированная TEM-камера для испытания интегральных схем на ЭМС / А. В. Демаков, М. Е. Комнатнов // Научная сессия ТУСУР – 2017: Материалы международной научно–технической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, посвященной 55-летию ТУСУРа (Томск, 10–12 мая 2017). – Ч. 3. – Томск: В-Спектр, 2017. – С. 53–55.

Конференция:

• Международная научно–техническая конференция студентов, аспирантов и молодых ученых, посвященная 55-летию ТУСУРа
• Россия, Томская область, Томск, 10-12 мая 2017,
• Международная

Издательство:

Томск. гос. ун-та систем упр. и радиоэлектроники

Россия, Томская область, Томск