Сайты ТУСУРа
Нажимая кнопку «СОГЛАСЕН», Вы подтверждаете то, что  Вы проинформированы об использовании cookies на нашем сайте. Отключить cookies Вы можете в  настройках своего браузера. Подробнее
Для того, чтобы мы могли качественно предоставить Вам услуги, мы используем cookies, которые сохраняются на Вашем компьютере (Сведения о местоположении; ip-адрес; тип, язык, версия ОС и браузера; тип устройства и разрешение его экрана; источник, откуда пришел на сайт пользователь; какие страницы открывает и на какие кнопки нажимает пользователь; эта же информация используется для обработки статистических данных использования сайта посредством интернет-сервиса Яндекс.Метрика)

Макет печатной платы для испытания на электромагнитную совместимость микроконтроллера 1986ВЕ91Т

Статья в сборнике трудов конференции

Требования по электромагнитной совместимости (ЭМС) устанавливают соответствующий уровень электромагнитной эмиссии (помехоэмиссии) и восприимчивости (помехоустойчивости). Их измерения проводят в соответствии с нормативными документами, в которых оговаривается порядок проведения, а также необходимые измерительные приборы и устройства. Измерения помехоэмиссии и помехоустойчивости микроконтроллера (МК) согласно стандартам МЭК 61967-2 и МЭК 62132-2 требуют разработки специальной измерительной печатной платы (ПП) для испытуемой интегральной схемы(ИС). Цель работы – представить результаты разработки макета измерительной ПП для исследования МК 1986ВЕ91Т на ЭМС.

Библиографическая запись: А.А. Собко. Макет печатной платы для испытания на электромагнитную совместимость микроконтроллера 1986ВЕ91Т / А.А. Собко, А.В. Осинцев, М.Е. Комнатнов // Научная сессия ТУСУР – 2017: Материалы Международной научно – технической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, посвященной 55-летию ТУСУРа, Томск, 10–12 мая 2017 г.: в 8 частях. – Томск: В-Спектр, 2017 – Ч. 3. С.87–89.

Конференция:

  • Международная научно – техническая конференция студентов, аспирантов и молодых ученых, посвященная 55-летию ТУСУРа
  • Россия, Томская область, Томск, 10-12 мая 2017,
  • Международная

Издательство:

Томск. гос. ун-та систем упр. и радиоэлектроники

Россия, Томская область, Томск

Год издания:  2017
Страницы:  87 - 89
Язык:  Русский