Исследование дифракционных характеристик многослойных неоднородных голографических ФПМ-ЖК дифракционных структур при считывании световой волной с линейной и круговой поляризацией

Статья в сборнике трудов конференции

Приведены результаты теоретического исследования дифракционных характеристик двухслойных ФПМ-ЖК дифракционных структур, демонстрирующие возможность изменения угловой селективности не только за счет влияния внешнего электрического поля, но также за счет состояния поляризации считывающего излучения.

Библиографическая запись: Алтухов Ю.А. Исследование дифракционных характеристик многослойных неоднородных голографических ФПМ-ЖК дифракционных структур при считывании световой волной с линейной и круговой поляризацией / Ю.А. Алтухов, Д.М. Чубаров, В.О. Долгирев, С.Н. Шарангович // материалы докладов XX Международной научно-практической конференции "Электронные средства и системы управления". 2024. Ч. 1. С. 159-161.

Конференция:

• Электронные средства и системы управления
• Россия, Томская область, Томск, 20-22 ноября 2024,
• Международная

Издательство:

В-Спектр

Россия, Томская область, Томск