Выпускная квалификационная работа Курочкина Дмитрия Игоревича
Название: "Устройство тестирования микросхем NAND-памяти на основе логического анализатора"
Тип: Бакалаврская работа
Год защиты: 2024
Руководитель: Саюн Владимир Михайлович, к.т.н., доцент кафедры ПрЭ ТУСУР
Факультет: Заочный и вечерний факультет (ЗиВФ)
Образовательная программа: 11.03.04 Электроника и наноэлектроника, Промышленная электроника