Рабочая программа учебной дисциплины
Направление подготовки: 11.04.04 Электроника и наноэлектроника
Профиль: Твердотельная электроника, очная форма обучения, ФЭ
Учебный план набора 2017 года (План в архиве)
Кафедра физической электроники
Основная литература
Козырь, Иван Яковлевич. Качество и надежность интегральных микросхем : Учебное пособие для втузов. - М. : Высшая школа , 1987. - 144 с.
Доступно в библиотеке:
18
экземпляров
Дополнительная литература
Смирнов С.В. Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: учебное пособие. – Томск: ТУСУР, 2010. – 115 с.
Доступно в библиотеке:
6
экземпляров
Смирнов С.В. Методы исследования надежности наногетероструктурных монолитных интегральных схем: учебное пособие. – Томск: ТУСУР, 2010. – 95 с.
Доступно в библиотеке:
8
экземпляров
Дисциплины
Испытание и контроль изделий электронной техники
Направление подготовки (специальность): 11.04.04 Электроника и наноэлектроника
Профиль: Твердотельная электроника
Индекс дисциплины: Б1.В.ДВ.3.2
Форма обучения: очная
Факультет: ФЭТ
Кафедра: ФЭ
Курс: 2
Семестр: 3
Учебный план набора 2017 года
План в архиве