Сайты ТУСУРа
Нажимая кнопку «СОГЛАСЕН», Вы подтверждаете то, что  Вы проинформированы об использовании cookies на нашем сайте. Отключить cookies Вы можете в  настройках своего браузера. Подробнее
Для того, чтобы мы могли качественно предоставить Вам услуги, мы используем cookies, которые сохраняются на Вашем компьютере (Сведения о местоположении; ip-адрес; тип, язык, версия ОС и браузера; тип устройства и разрешение его экрана; источник, откуда пришел на сайт пользователь; какие страницы открывает и на какие кнопки нажимает пользователь; эта же информация используется для обработки статистических данных использования сайта посредством интернет-сервиса Яндекс.Метрика)

TEM-cell Measurements of the Radiated Emissions from PCBs with Modal Reservation before and after Failure

Статья в сборнике трудов конференции

In this paper, the levels of radiated emissions from printed circuit boards with modal reservation are estimated before and after failures. Four board prototypes (without modal reservation, and with modal reservation before and after short and open circuit failures) were manufactured to experimentally study their features. A laboratory model of a miniature TEM-cell was used to measure the frequency dependences up to 5 GHz of the voltage amplitude levels at its central conductor for all boards. The measured results obtained after failures were compared to those obtained before them. It was revealed that in general the level of radiated emissions for the board with modal reservation is lower than for the board without it even after failures, except at some frequencies of the studied domain, due to the frequency shifting. The study confirms experimentally the possibility of using the modal reservation layout and tracing approach for both improving the reliability and ensuring electromagnetic compatibility, in terms of not only the conductive emissions but also the radiated ones.

Библиографическая запись: Alhaj Hasan, A. TEM-cell Measurements of the Radiated Emissions from PCBs with Modal Reservation before and after Failure [Electronic resource] / A. Alhaj Hasan, M. E. Komnatnov, T. R. Gazizov // Proceedings 2022 International Ural Conference on Electrical Power Engineering (UralCon) (Magnitogorsk, Russian Federation, 23-25 September 2022). – New York City : IEEE, 2022. – P. 196-200. – DOI: 10.1109/UralCon54942.2022.9906698

Конференция:

  • 2022 International Ural Conference on Electrical Power Engineering (UralCon)
  • Россия, Челябинская область, Магнитогорск, 23-25 сентября 2022,
  • Международная

Издательство:

IEEE

США, New York, New York City

Год издания:  2022
Страницы:  196 - 200
Язык:  Английский
DOI:  10.1109/UralCon54942.2022.9906698