Сайты ТУСУРа
Нажимая кнопку «СОГЛАСЕН», Вы подтверждаете то, что  Вы проинформированы об использовании cookies на нашем сайте. Отключить cookies Вы можете в  настройках своего браузера. Подробнее
Для того, чтобы мы могли качественно предоставить Вам услуги, мы используем cookies, которые сохраняются на Вашем компьютере (Сведения о местоположении; ip-адрес; тип, язык, версия ОС и браузера; тип устройства и разрешение его экрана; источник, откуда пришел на сайт пользователь; какие страницы открывает и на какие кнопки нажимает пользователь; эта же информация используется для обработки статистических данных использования сайта посредством интернет-сервиса Яндекс.Метрика)

Результаты научной деятельности

Review of the application of virtual metrology approach in semiconductor manufacturing

Статья в сборнике трудов конференции
XIV Международная научно-практическая конференция "Электронные средства и системы управления"
2018 Опубликовано почти 6 лет назад

A Study on the Effect of Ion Implantation Process Variations on the Small-Signal MESFET Model Parameters

Статья в сборнике трудов конференции
2019 International Multi-Conference on Engineering, Computer and Information Sciences (SIBIRCON)
2019 Опубликовано почти 5 лет назад