Сайты ТУСУРа

Результаты научной деятельности

Review of the application of virtual metrology approach in semiconductor manufacturing

Статья в сборнике трудов конференции
XIV Международная научно-практическая конференция "Электронные средства и системы управления"
2018 Опубликовано больше 5 лет назад

A Study on the Effect of Ion Implantation Process Variations on the Small-Signal MESFET Model Parameters

Статья в сборнике трудов конференции
2019 International Multi-Conference on Engineering, Computer and Information Sciences (SIBIRCON)
2019 Опубликовано больше 4 лет назад