Сайты ТУСУРа

Оптические методы обработки информации

11.03.04 - Электроника и наноэлектроника (Квантовая и оптическая электроника)

Очная форма обучения, план набора 2020 г.

Изучается: 6 семестр

Цикл дисциплины: Б1. Дисциплины (модули)

Индекс дисциплины: Б1.В.2.12

Обеспечивающая кафедра: Кафедра электронных приборов

Дополнительная литература

Пуговкин А.В., Серебренников Л.Я., Шандаров С.М. Введение в оптическую обработку информации. – Томск: Изд-во ТГУ, 1981. – 60 с.
Доступно в библиотеке: 28 экземпляров

Пихтин А.Н. Оптическая и квантовая электроника. Учебник для ВУЗов.- М.: Высшая школа, 2001. – 574 с
Доступно в библиотеке: 147 экземпляров

Взаимодействие световых волн на отражательных голографических решетках в кубических фоторефрактивных кристаллах : сборник статей / Е. Ю. Агеев [и др.] ; ред.: С. М. Шандаров, А. Л. Толстик ; Федеральное агентство по образованию, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : ТУСУР, 2007. - 99 с.
Доступно в библиотеке: 82 экземляра

Учебно-методическое пособие


Контрольные испытания

Вид контроля Семестры
Экзамен 6

Объем дисциплины и виды учебной деятельности

Вид учебной деятельности 1 семестр 2 семестр 3 семестр 4 семестр 5 семестр 6 семестр 7 семестр 8 семестр Всего Единицы
Лекционные занятия1414часов
Практические занятия1414часов
Лабораторные занятия1616часов
Самостоятельная работа6464часов
↳ из них практическая подготовка0часов
Подготовка и сдача экзамена/зачета3636часов
Общая трудоемкость144144часов
44З.Е

Компетенции

Код Содержание
ОПК-1 Способен использовать положения, законы и методы естественных наук и математики для решения задач инженерной деятельности
ПКР-5 Способен строить простейшие физические и математические модели приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения, а также использовать стандартные программные средства их компьютерного моделирования
ПКР-6 Способен аргументировано выбирать и реализовывать на практике эффективную методику экспериментального исследования параметров и характеристик приборов, схем, устройств и установок электроники и наноэлектроники различного функционального назначения