Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем

1 ВВЕДЕНИЕ 4

2 ВАРИАНТЫ ИНДИВИДУАЛЬНЫХ ЗАДАНИЙ ДЛЯ ПРАКТИЧЕСКИХ АУДИТОРНЫХ ЗАНЯТИЙ 5

2.1 Расчет удельного сопротивления и концентрации носителей заряда 5

2.2 Определение концентрации и подвижности носителей заряда методом Холла 7

2.3 Определение удельного сопротивления и концентрации носителей заряда методом Ван дер Пау 11

2.4 Определение удельного сопротивления эпитаксиальных структур четырехзондовым методом 12

2.5 Определение концентрации свободных носителей заряда методом вольт-фарадных характеристик 13

2.7 Определение эффективной массы 14

2.8 Оптические свойства кристаллов 15

2.9 Определение концентрации носителей методом ИК-эллипсометрии 17

2.10 Просветляющие покрытия 18

2.11 Отражение поляризованного света 19

2.12 Люминесценция 20

2.13 Эллипсометрия 21

2.14 Рентгеновские методы исследования кристаллической структуры 21

2.15 Методы обратного резерфордовского рассеяния и масс-спектроскопии вторичных ионов 24

3 ИНДИВИДУАЛЬНЫЕ ЗАДАНИЯ 27

4 ТЕСТОВЫЕ ЗАДАНИЯ 31

5 АУДИТОРНАЯ КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА 46

РЕКОМЕНДУЕМАЯ ЛИТЕРАТУРА 48

ПРИЛОЖЕНИЕ 1 49

ПРИЛОЖЕНИЕ 2 50

ПРИЛОЖЕНИЕ 3 51

ПРИЛОЖЕНИЕ 4 52