Методические указания к лабораторным работам
Целью данной лабораторной работы является ознакомление студентов с наиболее общими представлениями о методах тестирования запоминающих устройств (ЗУ). Важная роль в обеспечении надежности ЗУ отводится методам и средствам их контроля на различных этапах производства и эксплуатации Предназначено для студентов очной и заочной форм, обучающихся по направлению «Электроника и микроэлектроника» (специальность «Электронные приборы и устройства») по дисциплине «Информационные технологии в электронике».
Библиографическая запись:
Колегов, А. А. Тестирование ОЗУ: Методические указания к лабораторным работам [Электронный ресурс] / А. А. Колегов. — Томск: ТУСУР, 2012. — 15 с. — Режим доступа: https://edu.tusur.ru/publications/2029
Оглавление (содержание)
1 Введение
2 Теоретическая часть
2.1 Тесты для полупроводниковых оперативных запоминающих микросхем
2.2 Тесты для ОЗУ
2.3 Методические указания для выполнения лабораторной работы
3 Экспериментальная часть
3.1 Задание на работу
3.2 Содержание отчета
Литература