Методические указания к лабораторному занятию по дисциплине «Методы диагностики полупроводниковых структур»
Кафедра конструирования узлов и деталей радиоэлектронной аппаратуры
Библиографическая запись:
Оглавление (содержание)
Оглавление
1 ВВЕДЕНИЕ............................................................................................................................................. 4
2 МЕТОД ПРЯМОГО ПАДЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ НА СВЕТОДИОДЕ.............................................................. 4
3 СПЕКТРАЛЬНЫЙ МЕТОД БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ АКТИВНОЙ ЗОНЫ СИД....... 8
4 ОПИСАНИЕ УСТРОЙСТВА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРА ИЗЛУЧЕНИЯ СИД.............................................. 10
4.1 Технические характеристики.............................................................................................................. 10
4.2 Устройство спектрофотометра............................................................................................................ 11
4.3 Подготовка к работе........................................................................................................................... 11
5 ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЫ.............................................................................. 13
6 КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ.................................................................................................................... 13
7 СПИСОК РЕКОМЕНДУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ............................................................................................ 14
Методы диагностики полупроводниковых структур
11.04.04 Электроника и наноэлектроника (Приборы и методы контроля) Очная форма обучения, план набора 2022 г. План в архиве